能否利用X光显微镜研究显微结构?

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能否利用X光显微镜研究显微结构?

发表时间:2021-01-15 14:32:54点击:1133

来源:北京欧亚国际科技有限公司

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来自德国Fraunhofer的科学家研发了高分辨率的微米和纳米级别的计算机断层扫描系统,用来对显微细微结构进行3维分析。该研究成功的把人们研究带入了3维显微世界。

显微计算机断层扫描系统的客户群

显微计算机断层扫描的应用领域非常广泛。显微CT原来主要用于材料研究领域,例如来检测加强纤维复合物或铸件,科学家们也用CT扫描过冰核和牛奶泡沫。科学家们致力于将显微CT变得更用户友好。目前商用系统适合多种调查,但需要客户端有经受训人员。重新设计的设备针对特殊应用,可显著简化自动化操作。此设计使得市场更多样化,为技术改进提供了发展潜力,例如高通量扫描领域,按序扫描数以千计的相同结构,计算机可自动对3维图像进行评估。此技术潜在应用领域包括泡沫、粉末以及种子研究等。

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亚µ CT 扫描火柴:木细胞和斑点 

能否将电子显微镜和计算机断层扫描结合起来?

纳米CT可帮助人们观测到显微世界的细节。但显微CT的分辨率一般为1-2um,纳米-CT 分辨率可达50 nm。所检测的样品不应比头发丝粗。该精度对研发要求极高。常规空调的温度变动即可导致设备热膨胀,导致相机扫描时震动。研究团队为解决该问题制定出了2种策略。一种是在特定气候箱里免震花岗岩平台上操作,另一种策略更加复杂,使用了客户处的电子显微镜,已经具备了平稳测量的最佳条件。纳米CT模块和X光源以及检测器仅需挂在现有界面上,集成到系统中。 通过该组合设备,用户同时可观测样品表面以及其3维结构。

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该亚微米计算机断层扫描系统扫描的空间测量精度为0.3 µm到 3 µm。

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自动化种子扫描CT

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